Numeral 7.2.1.1 — NOM-024-ENER-2012, Características térmicas y ópticas del vidrio y sistemas vidriados para edificaciones. Etiquetado y métodos de prueba.

7.2.1.1 Equipos

Espectrofotómetro con esfera de int egración adjunta capaz de medir las características espectrales de las

muestras o materiales que cubra la región del espe ctro solar en el intervalo de 300 a 2500nm con una

incertidumbre menor que 3%. También podrá realizarse con un equipo que permita medir transmitancia solar

en el intervalo de 300 a 2500nm con una incertidumbre menor que 3%.

7.2.1.2 Seleccionar en el espectrofotómetro la variable de transmitancia y el intervalo de medición de. longitud de onda.

7.2.1.3 Realizar la medición con dos patrones del mismo material, Sulfato de Bario (BaS04) o Polímero de. Tetra Fluoro Etileno (PTFE) en ambos puertos, para el de la muestra y para el de referencia (Línea de base).

7.2.1.4 Realizar la medición de la transmitancia con el puerto de la muestra vacía (línea de 100%).

7.2.1.5 Realizar la medición de la transmitancia colocando la muestra opaca metálica (línea de 0%).

7.2.1.6 Realizar la medición de la transmitancia colocando la muestra de vidrio en el puerto de entrada,. sin importar la cara de medición.

7.2.1.7 En caso de doble o triple vidriado, repetir la op eración del inciso 7.2.1.5 para los vidrios 2 y 3,. respectivamente.

7.2.1.8 La transmitancia espectral para vidriados dobles se obtiene substituyendo los valores de. transmitancia y reflectancia (7.2.4.1 .), de las caras al interior de la(s) cámara(s) de gas de cada lámina del

vidriado, en la ecuación (1) del apéndice normativo A.1, y para vidrios triples la ecuación (2) del mismo

apéndice.

7.2.2 Evaluación de reflectancia espectral difusa.

7.2.2.1 Seleccionar en el espectrofotómetro la variable reflectancia y el intervalo de longitud de onda.

7.2.2.2 Realizar la prueba de línea base en el espectrofotómetro, ver inciso 7.2.1.2.

7.2.2.3 Realizar la medición de la reflectancia difusa, en la cara 1 (exterior), de la muestra.

7.2.2.4 En caso de vidriado doble o triple, repetir la oper ación del inciso 7.2.2.3 en ambas caras de cada. vidrio, exceptuando la cara que en el vidriado se ubica al interior.

7.2.2.5 Corregir los valores de reflectancia espectral difusa con los valores del material empleado para la. realización de la línea base (PTFE o BaSO

4).

7.2.3 Evaluación de reflectancia espectral especular.

7.2.3.1 Seleccionar en el espectrofotómetro el modo inverso y el intervalo de longitud de onda.

7.2.3.2 Sustituir en el espectrofotómetro una de las muestras de referencias (PTFE o BaSO 4) por una. superficie especular de referencia (aluminio vaporizado).

7.2.3.3 Realizar la línea base con dos materiales, una con el material de BaS04 o PTFE y la otra con. superficie especular de referencia, la cual se toma como el 100% de la medición para cada longitud de onda.

7.2.3.4 Realizar medición de la reflectancia especular, de la cara 1 (exterior) de la muestra.

7.2.3.5 En caso de doble o triple vidriado, repetir la operación del inciso 7.2.3.4 en ambas caras de cada. vidrio, exceptuando la cara que en el vidriado se ubica al interior.

7.2.3.6 Corregir los valores de reflectancia espectral especular con los valores del material empleado para. la realización de la línea base (aluminio vaporizado).

7.2.4 Medición de emisividad.